直流泄露和直流耐壓的試驗(yàn)?zāi)康呐c原理
 

　　對(duì)于良好的絕緣，在直流電壓作用下泄漏電流很小，同時(shí)，在同一直流電壓下，通過(guò)絕緣的電流隨加壓
 

　　時(shí)間的延長(zhǎng)而減小圖ZY1800202002-1所示為發(fā)電機(jī)泄漏電流實(shí)測(cè)曲線(xiàn)。由圖ZY1800202002-1可知，良好
 

　　的絕緣，隨外施直流電壓的增加，由于離子運(yùn)動(dòng)速度加快，泄漏電流增加 ，但在不太高的電壓范圍內(nèi)，
 

　　泄漏電流隨外施電壓的增加成直線(xiàn)關(guān)系，而且上升較小，
 

　　如圖ZY1800202002-1曲線(xiàn)1所示；絕緣受潮以后，泄漏電流隨外施電壓上升很大，
 

　　如圖ZY1800202002-l曲線(xiàn)2所示絕緣存在貫通的集中性缺陷時(shí)，當(dāng)外施電壓升高到一定的數(shù)值以后，泄漏電
 

　　流激增，如圖ZY1800202002-l曲線(xiàn)3所示絕緣的集中性缺陷越嚴(yán)重，出現(xiàn)泄漏電流激增點(diǎn)的電壓將越低，如圖ZY1800202002-1曲線(xiàn)4所示。泄漏電流試驗(yàn)是指在一定的直流試驗(yàn)電壓范圍內(nèi)，對(duì)絕緣施加不同數(shù)值的直流電壓，并測(cè)量通過(guò)絕緣的相應(yīng)泄漏電流，由電流的大小及電流與電壓的關(guān)系曲線(xiàn)，就可以分析和判斷絕緣的性能。由上述得知，泄漏電流試驗(yàn)的原理與絕緣電阻試驗(yàn)是一致的。不過(guò)泄漏電流試驗(yàn)與絕緣電阻和吸收比試驗(yàn)相比較，具有下列優(yōu)點(diǎn)
 

　　(1)泄漏電流試驗(yàn)所用的直流試驗(yàn)電壓是由高壓整流設(shè)備供給，電壓數(shù)值比絕緣電阻表的高，并且可以調(diào)節(jié)。對(duì)一定電壓等級(jí)的設(shè)備絕緣可以施加相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這樣絕緣本身的弱點(diǎn)就更容易顯示出來(lái)。
 

　　(2)泄漏電流試驗(yàn)是用微安表來(lái)指示泄漏電流值，靈敏度高，讀數(shù)比絕緣電阻表。
 

　　(3)根據(jù)泄漏電流測(cè)量值可以換算出絕緣電阻值，而用絕緣電阻表測(cè)出的絕緣電阻值，一般不能算出泄漏電流值。這是因?yàn)楦鶕?jù)絕緣電阻表的負(fù)荷特性，絕緣電阻表輸出的端電壓與被試品絕緣電值大小有關(guān)，不一定是絕緣電阻表銘牌標(biāo)準(zhǔn)電壓。
 

　　(4)泄漏電流試驗(yàn)可以繪制出泄漏電流與加壓時(shí)間的關(guān)系曲線(xiàn)和泄漏電流與所加電壓的關(guān)系曲線(xiàn)，通過(guò)這些曲線(xiàn)可以判斷絕緣狀況。
 

　　總之，泄漏電流試驗(yàn)對(duì)于發(fā)掘絕緣的缺陷比絕緣電阻試驗(yàn)更為靈敏和有效。直流耐壓試驗(yàn)是對(duì)電氣設(shè)備絕緣施加高出它的額定工作電壓一定值的直流試驗(yàn)電壓，并持續(xù)一定的時(shí)間，觀(guān)察絕緣是否發(fā)生擊穿或其他異常情況。直流耐壓試驗(yàn)與泄漏電流試驗(yàn)的原理、接線(xiàn)與方法相同，故多同步進(jìn)行。但兩者作用不同，直流耐壓
 

　　試驗(yàn)是考驗(yàn)絕緣的耐電強(qiáng)度，其試驗(yàn)電壓較高直流泄漏電流試驗(yàn)是檢查絕緣狀況，試驗(yàn)電壓較低。因此，直流耐壓試驗(yàn)對(duì)于發(fā)現(xiàn)某些局部缺陷更有特殊意義。